Diameter | 4“
| 5”
| 6“
| 8”
|
Device Layer | Dopant | Boron, Phos, Arsenic, Antimony, Undoped |
Orientation
| <100>, <111> |
Type | SIMOX, BESOI, Simbond, Smart-cut |
Resistivity
| 0.001-20000 Ohm-cm |
Thickness (um) | 0.2-150 |
The Uniformity | <5% |
BOX Layer | Thickness (um) | 0.4-3
|
Uniformity | <2.5% |
Substrate | Orientation
| <100>, <111> |
Type/Dopant | P Type/Boron , N Type/Phos, N Type/As, N Type/Sb |
Thickness (um) | 300-725
|
Resistivity | 0.001-20000 Ohm-cm |
Surface Finished | P/P, P/E
|
Particle
| <10@.0.3um |
SOI材料的制備方法有多種,過去經常采用的有離子束、電子束或激光區(qū)熔再結晶(ZMR),外延橫向生長法(ELO)等,這些方法各有特色,但對于制造商用SOI晶片來說,其生產能力和成本因素略顯不足。目前,注氧隔離法(SIMOX)和硅片鍵合法是制造低成本商用SOI晶片的兩種主要方法,并在國際上形成了兩大生產流派。采用這兩種方法都已能制造Φ200mm SOI晶片,并且有望滿足0.25μm/0.18μm工藝線的質量要求,它們面臨的主要挑戰(zhàn)是如何進一步提高產量、降低成本,即以IC制造商可接受的價格規(guī)模生產出質量符合要求的SOI晶片以滿足IC規(guī)模生產的要求。